新型柔性X射線成像技術有望突破國外技術限製
2021年03月31日18:52

原標題:新型柔性X射線成像技術有望突破國外技術限製 來源:新華網

  新華社福州3月31日電(記者張逸之)福州大學教授楊黃浩等人發現了一類高性能X射線發光納米閃爍體長餘輝材料,有望突破國外技術限製,推動高端X射線影像設備的國產化。

  X射線影像技術在醫學診斷、安全檢查、工業無損探傷上具有廣泛而重要的應用。目前,市面主流的X射線影像設備為平板探測器,需要集成薄膜晶體管陣列(TFT)、非晶矽光電轉換層和閃爍體。

  “閃爍體是平板探測器的核心部件,其作用是將高能量X射線光子轉為可見光。但目前,國產平板探測器包括高性能閃爍體材料在內的核心部件絕大部分依靠進口。”福州大學化學學院研究員陳秋水說。

  經過長期研究,科研人員製備出新型的稀土納米閃爍體長餘輝材料,提出了高能量X射線光子誘導缺陷產生長餘輝發光的機理。這種閃爍體具有尺寸易調控、無色透明、分散性良好、餘輝性能優異等特點。

  研究團隊將其與柔性基底相結合,製備出透明、可拉伸、無需電子電路的柔性X射線成像設備。相比傳統平板探測器,其成像空間解像度具有明顯優勢。

  該課題由福州大學與新加坡國立大學、香港理工大學合作完成,研究成果於《自然》期刊在線發表。

  《自然》的同期述評指出,長餘輝發光納米晶體製造的柔性X射線探測器能夠產生對高度彎曲的三維目標物進行高分辨成像,性能優於商業化平板探測器。

  目前,研究團隊正在進行跨學科合作,推進高端X射線影像設備的國產化。

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